二、低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與方法

 國標(biāo)要求：按照GB/T 2423.1-2008的規(guī)定，充電樁的低溫測(cè)試通常設(shè)置為-25℃（室外型），以模擬寒冷地區(qū)的冬季環(huán)境。測(cè)試步驟如下：

1. 準(zhǔn)備階段：將充電樁放入環(huán)境試驗(yàn)箱，確保試驗(yàn)箱內(nèi)溫度均勻無死角。
2. 溫度穩(wěn)定：待試驗(yàn)箱溫度穩(wěn)定至-25℃后，保持一段時(shí)間以確保充電樁內(nèi)外溫度一致。
3. 加載運(yùn)行：將充電樁設(shè)置為額定負(fù)載狀態(tài)，并啟動(dòng)運(yùn)行，觀察其顯示功能、輸入功能和通信功能是否正常。
4. 持續(xù)測(cè)試：在-25℃環(huán)境下持續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，期間不斷監(jiān)測(cè)充電樁的各項(xiàng)功能，包括充電控制導(dǎo)引、顯示、輸入、通信及保護(hù)功能。

歐標(biāo)要求

IEC 61851-2017中的低溫測(cè)試更為嚴(yán)苛，要求試驗(yàn)溫度為-40℃（室外型）。測(cè)試流程與國標(biāo)類似，但溫度更低，且需在溫度穩(wěn)定后等待16小時(shí)再加載運(yùn)行，以更**地評(píng)估充電樁在極端低溫下的性能。

三、高溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與方法

 國標(biāo)與歐標(biāo)共通點(diǎn)

無論是國標(biāo)還是歐標(biāo)，高溫測(cè)試的要求基本相同，均按照GB/T 2423.2-2008（或類似標(biāo)準(zhǔn)）進(jìn)行，測(cè)試溫度為55℃。測(cè)試流程同樣包括準(zhǔn)備階段、溫度穩(wěn)定、加載運(yùn)行和持續(xù)測(cè)試四個(gè)步驟。在高溫環(huán)境下，充電樁的顯示功能、輸入功能、通信功能及保護(hù)功能需保持正常，且充電控制導(dǎo)引不受影響。

四、測(cè)試過程中的注意事項(xiàng)

1. 溫度控制：確保試驗(yàn)箱內(nèi)溫度均勻，避免局部過熱或過冷現(xiàn)象，影響測(cè)試結(jié)果。
2. 負(fù)載穩(wěn)定：在測(cè)試過程中，應(yīng)保持充電樁的負(fù)載穩(wěn)定，以真實(shí)反映其在額定工況下的性能表現(xiàn)。
3. 監(jiān)測(cè)記錄：詳細(xì)記錄測(cè)試過程中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)，包括溫度、電壓、電流、功率等，以便后續(xù)分析。
4. **防護(hù)：由于測(cè)試過程中涉及高溫和低溫環(huán)境，需做好**防護(hù)措施，防止人員和設(shè)備受損。

五、測(cè)試后評(píng)估

測(cè)試結(jié)束后，需對(duì)充電樁進(jìn)行**的性能評(píng)估。評(píng)估內(nèi)容主要包括：
各項(xiàng)功能是否正常，如顯示、輸入、通信、充電控制導(dǎo)引及保護(hù)等。
充電樁的結(jié)構(gòu)是否受損，如外殼變形、內(nèi)部元件損壞等。
性能指標(biāo)是否滿足設(shè)計(jì)要求，如充電效率、功率因數(shù)、諧波含量等。

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